高精度相位特性测量系统设计与实现

作     者：周良将 梁兴东 丁赤飚 Zhou Liangjiang;Liang Xingdong;Ding Chibiao

作者机构：中国科学院电子学研究所微波成像技术国防重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100049 

出 版 物：《电子测量与仪器学报》 (Journal of Electronic Measurement and Instrumentation)

年 卷 期：2009年第23卷第S1期

页      码：192-195页

摘      要：元器件、模块和接收通道的相位特性(相-频特性、相位-温度特性等)是射频系统设计中需要考虑的一个重要指标;本文提出了一种基于带通采样定理,使用数据采集系统和数字信号处理方法的高精度相位特性测量系统,描述了该系统的设计方案和采用的相位检测方法,通过实际系统测量对系统的性能进行了验证。该系统在宽温度范围内可以测量工作频率在500MHz以下元器件、模块以及输出信号频率低于500MHz的接收通道的相位特性,亦可用于单频信号的高精度相位测量。实际测试结果表明测量分辨力可达到0.025度(RMS)。

主 题 词：高精度 相位特性 测量 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

馆 藏 号：203100186...