基于PLC的芯片测试分选机设计

作     者：徐银森 吴华 

作者机构：南通华达微电子集团有限公司江苏南通226000 

出 版 物：《机电信息》 (Mechanical and Electrical Information)

年 卷 期：2015年第15期

页      码：134-135页

摘      要：利用三菱PLC对芯片测试分选机进行控制,介绍了测试分选机的主要构成部分、电气控制及软件设计。给出了测试分选机的工艺流程图、整个系统控制框图和程序结构图等。

主 题 词：PLC 芯片 测试分选机 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-0797.2015.15.076

馆 藏 号：203100241...