iLink技术测试和验证高速总线

作     者：张楷 

作者机构：泰克公司 

出 版 物：《电子设计应用》 (Electronic Design & Application World)

年 卷 期：2004年第2期

页      码：119-121,134页

摘      要：本文介绍了一种新的高速总线测试和验证方法,通过ilink工具包、集成逻辑分析仪和数字存储示波器,能够帮助设计和测试人员彻底的调试、验证各种高速串行和并行总线。并且通过多路通道的眼图测试可彻底验证高速信号完整性问题。最后给出了高速总线测试和验证的实例。

主 题 词：iLink 高速总线 逻辑分析仪 数字存储示波器 眼图测试 信号完整性 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203100415...