嵌入式系统的存储器测试方法及其应用

作     者：丁有志 杨镇西 王继 朱建军 

作者机构：信息工程大学国家数字交换系统工程技术研究中心河南郑州450002 

出 版 物：《信息工程大学学报》 (Journal of Information Engineering University)

年 卷 期：2004年第5卷第4期

页      码：50-53页

摘      要：文章对嵌入式系统设计中存储器常见问题进行了分析,介绍了一种快速有效的存储器测试方法,并以MPC860通信处理器为CPU的系统为例,详细描述了如何实际应用该测试方法。

主 题 词：嵌入式系统 存储器 MPC860 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-0673.2004.04.015

馆 藏 号：203100716...