单链扫描可测性设计中存储元件的排序

作     者：叶波 郑增钰 

作者机构：复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室复旦大学电子工程系 

出 版 物：《计算机学报》 (Chinese Journal of Computers)

年 卷 期：1995年第18卷第8期

页      码：598-603页

摘      要：本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法．采用文迭测试体制和区间法能快速求出最优解．对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少．

主 题 词：扫描设计 存储元件 时序电路 测试 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

馆 藏 号：203100949...