SDRAM辐照效应测试系统的研制

作     者：姚志斌 张凤祁 何宝平 罗伊红 郭红霞 YAO Zhi-bin;ZHANG Feng-qi;HE Bao-ping;LUO Yin-hong;GUO Hong-xia

作者机构：西北核技术研究所陕西西安710024 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2009年第29卷第1期

页      码：31-35,51页

摘      要：文章利用CPLD及DSP作为系统的核心部件,设计了最大可测256MB、32位的SDRAM辐照效应在线测试系统。系统可以动态监测辐照期间SDRAM的翻转地址、翻转数等参数,基本满足辐照效应的测试要求。

主 题 词：SDRAM 辐照效应 测试系统 

学科分类：082704[082704] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0804[工学-材料学] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.0258-0934.2009.01.008

馆 藏 号：203100979...