高速AD7654转换器及其在存储测试系统中的应用

作     者：张毅 ZHANG Yi

作者机构：中国工程物理研究院总体工程研究所四川绵阳621900 

基　　金：中物院创新发展基金(10CXJ10) 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2012年第35卷第4期

页      码：156-158页

摘      要：为了研制应用于跌落试验等环境试验的存储测试系统,利用高速A/D转换芯片AD7654结合SoC片上系统C8051F340逻辑时序控制的方法来实现200KSPS采样速率的系统指标要求。AD7654是AD公司推出的一款低功耗、四通道、电荷再分布式、16位500KSPS高速A/D转换器。在此介绍了AD7654的主要特点、工作原理和逻辑时序,并为了实现并行存储测试的实际需要,设计了AD7654与SoC片上系统以及非易失性存储器的接口电路,并给出相应了相应的A/D中断服务程序。该提供的方法对类似的项目有一定参考价值。

主 题 词：AD7654 高速A/D转换器 存储测试系统 SoC 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2012.04.014

馆 藏 号：203101005...