Nd:GGG晶体荧光寿命的测试

作     者：李昌立 孙晶 蔡红星 张喜和 LI Chang-li;SUN Jing;CAI Hong-xing;ZHANG Xi-he

作者机构：长春理工大学理学院长春130022 

出 版 物：《光学与光电技术》 (Optics & Optoelectronic Technology)

年 卷 期：2006年第4卷第4期

页      码：50-52页

摘      要：针对Nd:GGG激光器,介绍了荧光寿命测试原理,设计了低频窄脉宽荧光寿命测试系统。该系统由光源、光路系统、驱动电路和探测系统等几部分组成。利用脉冲取样技术测试了Nd: GGG晶体的荧光寿命约为250μs左右。

主 题 词：Nd:GGG晶体 荧光寿命 脉冲取样技术 低频窄脉宽 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-3392.2006.04.015

馆 藏 号：203101267...