空间单粒子故障容错设计的验证技术研究

作     者：段青亚 黄士坦 辛明瑞 DUAN Qing-ya;HUANG Shi-tan;XIN Ming-rui

作者机构：中国航天时代电子公司第七七一研究所陕西西安710054 西北工业大学陕西西安710072 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2007年第24卷第11期

页      码：38-41页

摘      要：由于空间环境的特殊性,可靠性成为航天器的重要指标,容错设计在航天关键电子元器件中必不可少。在航天器进入太空之前,为了模拟空间辐射效应,文中采用一种新颖方法对航天关键电子元器件进行单粒子故障注入,同时通过软件配合测试的方式,达到验证其容错结构的目的。采用了该技术的面向空间应用的高性能高可靠32位嵌入式RISC处理器取得了一次流片成功的结果。

主 题 词：星载计算机 单粒子故障 SEE SEU SEL SEB 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-7180.2007.11.011

馆 藏 号：203101633...