基于扫描的VLSI全速测试方法

作     者：马琪 焦鹏 周宇亮 MA Qi;JIAO Peng;ZHOU Yu-liang

作者机构：杭州电子科技大学微电子CAD研究所杭州310018 杭州士兰微电子股份有限公司设计所杭州310012 

基　　金：浙江省科技攻关计划资助项目(2007C31G2010013) 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2007年第32卷第12期

页      码：1090-1093页

摘      要：当工艺进入到超深亚微米以下,传统的故障模型不再适用,必须对电路传输延迟引发的故障采用延迟故障模型进行全速测试。给出了常用的延迟故障模型,介绍了一种基于扫描的全速测试方法,并给出了全速测试中片上时钟控制器的电路实现方案。对芯片进行测试,可以直接利用片内锁相环电路输出的高速时钟对电路施加激励和捕获响应,而测试向量的扫描输入和响应扫描输出则可以采用测试机提供的低速时钟,从而降低了全速测试对测试机时钟频率的要求。最后,对于全速测试方案提出了若干建议。

主 题 词：可测性设计 延迟故障 全速测试 扫描测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-353X.2007.12.020

馆 藏 号：203101651...