基于MCU的可测性设计与实现

作     者：张键 鲍宜鹏 ZHANG Jian;BAO Yipeng

作者机构：中科芯集成电路有限公司江苏无锡214072 

基　　金：江苏省科技成果转化高性能实时微处理器系列产品研发及产业化(BA2019012) 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2021年第21卷第1期

页      码：72-76页

摘      要：随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难。介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32F0XX芯片的测试向量产生及整体测试。

主 题 词：MCU芯片 可测性设计 测试资源复用 测试成本 测试方法 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0111

馆 藏 号：203101729...