BESⅢ飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试

作     者：吴金杰 衡月昆 刘树彬 郭建华 封常青 安琪 孙志嘉 赵玉达 WU Jinjie;HENG Yuekun;LIU Shubin;GUO Jianhua;FENG Changqing;AN Qi;SUN Zhijia;ZHAO Yuda

作者机构：中国科学院高能物理研究所 中国科技大学近代物理系快电子学实验室合肥230026 

基　　金：北京正负电子对撞机重大改造工程项目 中国科学院知识创新基金(U-602和U-34)资助 

出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期：2008年第31卷第1期

页      码：5-9页

摘      要：讨论了北京谱仪(BESⅢ)飞行时间探测器(TOF)前端电子学的物理需求。因光电倍增管信号为前端电子学实际使用,而以光电倍增管信号作为信号源测试电子学性能是一种方便易行的方法,所以本文采用光电倍增管信号作为信号源测试电子学的性能。测试结果表明现行设计的电子学性能已达到BESⅢ飞行时间探测器对电子学的预期目标。

主 题 词：北京谱仪,飞行时间探测器,电子学,时间性能,幅度性能 

学科分类：07[理学] 0807[工学-电子信息类] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 070202[070202] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 0801[工学-力学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0253-3219.2008.01.002

馆 藏 号：203101768...