MT-6000中的内建自测试设计

作     者：胡少飞 李平 吴佳英 HU Shao-fei;LI Ping;WU Jia-ying

作者机构：长沙理工大学计算机与通信工程学院长沙410114 

基　　金：湖南省自然科学基金项目(09JJ6094) 湖南省科技计划资金项目(2010GK3069) 

出 版 物：《微处理机》 (Microprocessors)

年 卷 期：2011年第32卷第5期

页      码：10-14页

摘      要：MT-6000是一款时分多路复用串行数据总线控制芯片。其特点是高集成度,高容错性以及在恶劣环境下的高可靠性等。芯片设有内建自测试功能来保障其可用性,同时自测试方法简洁,其功能覆盖达80%以上。研究了MT-6000的系统结构,设计了核心部分的内建自测试,包括自测试码产生方法及自测试电路。最后给出了实验分析结果。

主 题 词：内建自测试 自测试码 自测试电路 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-2279.2011.05.004

馆 藏 号：203101904...