设计技术确保片上系统的可测性

出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：2000年第13卷第2期

页      码：178-179页

摘      要：传统测试方法难以测试片上系统(SOC),在片上系统中区分设计和测试是不可能的。对复杂数字和混合信号的器件,需及早采用设计工具将可测性融合在设计过程中。可以选择的有可测试设计(DFT)技术和内装自测试(BIST)技术。可测试设计确保片上系统中所有电路元件可被激励和被观察;BIST芯片可产生自身的测试激励,并测量相应的响应。

主 题 词：设计技术 片上系统 可测性 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203101904...