一种基于MCU的电路特性测试仪的设计

作     者：杨航 羊栋 赵越 王京 YANG Hang;YANG Dong;ZHAO Yue;WANG Jing

作者机构：东南大学成贤学院电子与计算机工程学院江苏210088 

基　　金：2019江苏省大学生实践创新训练项目研究项目(scx1902) 

出 版 物：《电子技术（上海）》 (Electronic Technology)

年 卷 期：2020年第49卷第11期

页      码：64-65页

摘      要：设计一种基于MCU单片机的电路特性测试仪,利用DDS数字频率合成计产生所需的正弦信号,将此信号作为输入,通过有效值检测模块将输入、输出正弦信号转化为有效值,从而计算输入电压、输出电压、增益。通过点频法测的幅频特性曲线。当电路出现故障时,测得的输入电阻、输出电阻、增益、上限截止频率及下限截止频率将与正常情况下的值有所不同。通过对比不同故障情况下相应参数,确定故障的原因所在。

主 题 词：电路特性测试 DDS 有效值转换 故障检测 STM32F103 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203101975...