并行自动测试系统硬件结构研究

作     者：卓家靖 孟晨 方丹 Zhuo Jiajing;Meng Chen;Fang Dan

作者机构：军械工程学院导弹工程系河北石家庄050003 武汉军械士官学校湖北武汉430075 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2009年第17卷第5期

页      码：820-821,853页

摘      要：为实现自动测试系统高效率和低成本,对并行自动测试系统的硬件结构进行了研究,提出了单处理器架构方式下的并行自动测试系统硬件结构;并具体对测试控制器、接口总线、仪器资源以及开关系统等各硬件模块的特点进行了研究,通过分析它们对并行测试的支持,明确了并行自动测试系统设计中的关键技术,可指导系统的实际开发。

主 题 词：自动测试系统 并行测试 硬件结构 仪器资源 开关系统 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2009.05.066

馆 藏 号：203102298...