一种基于静态形式验证的I/O复用电路高效验证方法

作     者：段丽莹 胡毅 郝燚 甘杰 冯文楠 唐晓柯 

作者机构：北京智芯微电子科技有限公司 

出 版 物：《电子世界》 (Electronics World)

年 卷 期：2021年第3期

页      码：91-94页

摘      要：随着系统级芯片(System on Chip,SoC)中输入/输出(I/O)接口数量和复用功能的不断增加,I/O复用电路的验证变得越来越复杂,并且需要耗费大量时间。本文针对I/O复用电路的特点,提出一种基于静态形式验证的高效验证方法,在验证早期对I/O复用进行了复用功能验证和连接性验证,同时也进行了翻转覆盖率收集。与传统基于动态验证的方法相比,本方法可以将验证时间缩短一半以上,显著提升了设计质量和开发效率。

主 题 词：I/O复用 动态验证 验证方法 系统级芯片 验证时间 连接性 功能验证 翻转覆盖率 

学科分类：08[工学] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19353/j.cnki.dzsj.2021.03.041

馆 藏 号：203102302...