超声测厚仪的零点校准与温度变化对测量值的影响

作     者：彭雪莲 PENG Xue-Lian(TIME GROUP Inc,Beijing 100085,China)

作者机构：时代集团公司北京100085 

出 版 物：《无损检测》 (Nondestructive Testing)

年 卷 期：2009年第31卷第9期

页      码：711-714页

摘      要：在超声波测厚的场合,通常使用带延迟块的探头。由于延迟块的介入,使超声波传播的声时增加,而且延迟块材料的声速会随着温度的变化而变化,进而会影响厚度测量的准确性。设计超声测厚仪时要设计减除这多加的声时的电路,使最终结果为被测物的真实厚度。采用不同的技术路线来实现这个功能,会导致在不同的环境温度、不同的耦合状况、测量对象为不同材料等各种各样的应用环境下,产生不同的效果。针对超声测厚仪"校零"这一关键点加以论述,介绍温度对"零点"的影响,并介绍几种目前比较流行的"校零"的方法,指出各个方法的优缺点。

主 题 词：超声波 脉冲反射法 厚度测量 测厚仪 

学科分类：08[工学] 080502[080502] 0805[工学-能源动力学] 0802[工学-机械学] 

馆 藏 号：203102397...