CCD在双玻璃晒架的精密光学定位中的设计

作     者：吴琼 刘先勇 徐春梅 WU Qiong;LIU Xian-yong;XU Chun-mei

作者机构：西南科技大学信息工程学院四川绵阳621010 

出 版 物：《传感器与微系统》 (Transducer and Microsystem Technologies)

年 卷 期：2006年第25卷第12期

页      码：54-56页

摘      要：随着电子工业的不断发展,对印制电路板的质量要求越来越高。传统销钉/孔定位方式已经不能适合现代生产的精密要求。CCD光学定位是全新的定位概念,设计了CCD光学定位系统的结构,实验验证了CCD光学对位精度可达到10μm,该指标明显优于传统定位方式的对位精度。

主 题 词：光学测量 CCD光学定位 重复定位精度 双玻璃晒架 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-9787.2006.12.018

馆 藏 号：203102452...