高性能MCU的FPGA原型验证系统研究与平台实现

作     者：贺龙龙 杨立新 牛彬 黎金旺 张彦欣 李猛 He Longlong;Yang Lixin;Niu Bin;Li Jinwang;Zhang Yanxin;Li Meng

作者机构：北京智芯微电子科技有限公司北京102200 

出 版 物：《单片机与嵌入式系统应用》 (Microcontrollers & Embedded Systems)

年 卷 期：2021年第21卷第3期

页      码：32-36页

摘      要：本文研究并实现了一种基于Cortex-A7核的高性能MCU在FPGA原型阶段的验证平台。该设计研究可以针对高性能MCU芯片或其FPGA原型验证阶段的软硬件验证环境快速搭建,通过交互式、软硬件协同的方式对MCU芯片各个模块功能进行实时、可靠的功能验证。高效的FPGA原型验证可以提高MCU研发速度、缩短验证时间、提高验证效率、及时发现芯片设计的缺陷、缩短芯片研发周期。

主 题 词：FPGA原型 高性能MCU 芯片验证 FPGA验证 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203102589...