随机幅相误差对线阵方向图最高副瓣电平的影响研究

作     者：高坤 张军 袁晶 Gao Kun;Zhang Jun;Yuan Jing

作者机构：西安电子工程研究所西安710100 

出 版 物：《火控雷达技术》 (Fire Control Radar Technology)

年 卷 期：2013年第42卷第1期

页      码：87-93页

摘      要：副瓣电平是天线的重要技术指标之一,较低的副瓣电平可以减弱杂波影响、提高雷达的抗干扰能力。但在实际设计天线的过程中,不可避免的会引入随机误差,使得阵列的口径分布发生变化,直接影响天线阵的性能。随机误差的引入最终都可以表现为阵列各个单元的幅度误差和相位误差,故需要分析随机幅相误差对阵列天线副瓣电平的影响。本文以此出发,应用统计学理论,得到计入随机幅相误差后阵列副瓣区副瓣电平的统计特性,并由此分析在整个副瓣区域内最高副瓣电平的统计特性。结合计算机仿真,证明分析计算结果的正确性。

主 题 词：副瓣电平 低副瓣 随机幅相误差 最高副瓣电平 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1008-8652.2013.01.021

馆 藏 号：203102716...