双线阵CCD光学拼接与误差分析研究

作     者：何娜娜 艾雪雯 HE Nana;AI Xuewen

作者机构：长安大学电子与控制工程学院陕西西安710054 陕西淼沐环保工程有限公司陕西西安710021 

基　　金：“十三五”国家重点研发计划项目(SQ2018YFB16003105) 中央高校基本科研业务费创新团队培育项目(CHD 300102329401) 

出 版 物：《光学技术》 (Optical Technique)

年 卷 期：2021年第47卷第2期

页      码：159-162页

摘      要：基于线阵CCD的图像测量技术是当前工程应用中的一个重要领域,针对当前高精度大动态范围测量和标准线阵CCD测量范围及线阵CCD几何结构之间的矛盾,提出了一种高精度大范围的线阵CCD测量拼接方案。利用半反半透镜平面反射原理设计了双线阵CCD高精度拼接的光学拼接系统的光机结构原理,给出了重叠像元的标定原理,对其标定和拼接误差进行了分析。通过拼接系统的实验室长期实验结果表明:方案拼接简单,实用可靠,系统的整体拼接误差约为0.019mm,且拼接不存在漏缝现象,拼接精度满足高精度测量的要求。拼接方案对高精度、大动态范围CCD测量实际应用有一定的参考意义。

主 题 词：图像测量 动态范围 光学拼接 标定 像素重叠 

学科分类：080503[080503] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 0802[工学-机械学] 0702[理学-物理学类] 080201[080201] 

D　O　I：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.02.006

馆 藏 号：203102812...