基于微处理器的可测性设计

作     者：徐国强 王玉艳 马鹏 章建雄 

作者机构：华东计算技术研究所上海200233 

出 版 物：《计算机工程》 (Computer Engineering)

年 卷 期：2002年第28卷第9期

页      码：190-191,252页

摘      要：由于微处理器结构复杂、测试困难,作者在微处理器设计中插入内建自测试(BIST)电路对指令译码部件的可编程逻辑阵列(PLA)电路和执行部件的控制只读存储器(CROM)电路进行测试。模拟结果表明,微处理器可分别在测试模式与正常工作模式下运行。在测试模式下,微处理器芯片中近40%的晶体管可用自检办法解决。

主 题 词：微处理器 可测性设计 线性反馈移位寄存器 数字集成电路 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-3428.2002.09.074

馆 藏 号：203102865...