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变频电源开关芯片炸裂的失效分析与可靠性研究

变频电源开关芯片炸裂的失效分析与可靠性研究

作     者:王少辉 项永金 

作者机构:格力电器(合肥)有限公司合肥230088 

出 版 物:《电子产品世界》 (Electronic Engineering & Product World)

年 卷 期:2021年第28卷第5期

页      码:44-48,62页

摘      要:随着科技的发展,电器设备使用越来越广泛,功能越来越强大,体积也越来越小,对电源模块的要求不断增加。开关电源具有效率高、成本低及体积小的特点,在电气设备中获得了广泛的应用。经分析,开关电源电路多个器件失效主要是电路中高压瓷片电容可靠性差,导致开关芯片失效。本文通过增加瓷片电容材料的厚度提高其耐压性能和其他性能,使产品各项性能有效提高,满足电路设计需求,减少售后失效。

主 题 词:开关电源 高压瓷片电容 芯片 耐压提升 可靠性 

学科分类:0810[工学-土木类] 08[工学] 081001[081001] 

馆 藏 号:203103360...

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