用于快中子能谱测量的^6LiF夹心半导体谱仪

作     者：蒋勇 李俊杰 张涛 范晓强 郑春 JIANG Yong;LI Jun-jie;ZHANG Tao;FAN Xiao-qiang;ZHENG Chun

作者机构：中国工程物理研究院核物理与化学研究所四川绵阳621900 四川大学原子与分子物理研究所四川成都610065 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11205140) 中国工程物理研究院科学技术发展基金资助项目(2009B0103005) 

出 版 物：《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)

年 卷 期：2012年第46卷第12期

页      码：1492-1497页

摘      要：本文介绍了6LiF夹心谱仪的测量原理、自行设计研制的6LiF夹心半导体谱仪探头结构及电子学系统组成等。在热中子场中测试了夹心谱仪的性能,获得了α粒子峰、T粒子峰及"和"峰在多道上的位置与能量分辨率,并用T粒子与"和"峰两个能量点的峰位对谱仪系统进行了能量刻度。分别用效应探头和本底探头测量了临界装置表面的效应谱和本底谱,当效应探头采用的6LiF镀层质量厚度为186μg/cm2时,6LiF夹心谱仪对热中子的能量分辨率为363keV,测量中子最佳能区为0.3～7.5MeV,在该能区内,本底谱约占1%。

主 题 词：6LiF夹心半导体谱仪 临界装置 快中子能谱 能量分辨率 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

馆 藏 号：203103494...