ODN中光纤的宏弯损耗对ONU弱光的影响

作     者：丁为民 代岭 杨珩 DING Wei-min;DAI Ling;YANG Heng

作者机构：中国移动通信集团设计院有限公司安徽分公司合肥230041 

出 版 物：《电信工程技术与标准化》 (Telecom Engineering Technics and Standardization)

年 卷 期：2021年第34卷第6期

页      码：77-80页

摘      要：本文通过对ONU弱光的ODN链路衰耗进行分析,发现ODN链路的下行衰耗严重超标的现象,在用OTDR进行故障定位并测试光纤在相应波长的宏弯损耗后,得出光纤的宏弯损耗是导致ODN链路下行衰耗超标的原因,进一步对ODN链路的入户段光缆进行衰耗测试,从而验证了宏弯损耗是引起ONU弱光的主要原因。

主 题 词：ODN 宏弯损耗 尾纤 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 081001[081001] 

D　O　I：10.13992/j.cnki.tetas.2021.06.016

馆 藏 号：203103530...