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某电子设备振动环境功能失效分析

某电子设备振动环境功能失效分析

作     者:杜尚勇 何文灿 张云翔 DU Shang-yong;HE Wen-can;ZHANG Yun-xiang

作者机构:中国电子科技集团公司第二十九研究所成都610036 

出 版 物:《装备环境工程》 (Equipment Environmental Engineering)

年 卷 期:2021年第18卷第6期

页      码:115-118页

摘      要:目的检查电子设备是否能承受其工作环境的考验,提高其可靠性。方法模拟设备在真实环境下的工况,进行振动冲击试验。结果某机载电子设备振动试验功能失效,通过逐级分析,结合机理分析和仿真验证,定位振动故障原因,并给出设计和工艺改进方案。结论验证有效,可以作为同类故障处理参考。

主 题 词:电子设备 振动试验 失效分析 

学科分类:08[工学] 0826[工学-生物医学工程类] 

D O I:10.7643/issn.1672-9242.2021.06.017

馆 藏 号:203103683...

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