一种基于V58300平台的集成电路功能测试系统设计

作     者：田强 杨婉婉 李力南 郭刚 蔡莉 刘海南 罗家俊 TIAN Qiang;YANG Wanwan;LI Linan;GUO Gang;CAI Li;LIU Hainan;LUO Jiajun

作者机构：北京交通大学电子信息工程学院北京100044 中国科学院微电子研究所北京100029 中国科学院硅器件技术重点实验室北京100029 中国原子能科学研究院核物理研究所北京102413 国防科技工业抗辐照应用技术创新中心北京102413 

基　　金：国防科技工业抗辐照应用技术创新中心创新基金资助项目(KFZC2018020301) 

出 版 物：《太赫兹科学与电子信息学报》 (Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology)

年 卷 期：2021年第19卷第3期

页      码：537-540页

摘      要：基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台,设计实现了一种集成电路功能测试系统。该系统包含上位机与下位机两部分,通过在上位机实时更改测试系统相关I/O的定义和输入的测试向量文件,即可自动完成对各种运行频率在25 MHz及以下,I/O数量在48位及以下双列直插(DIP)封装集成电路的功能测试,实现了测试系统的通用化和低成本化。最后通过实验证明本测试系统可以有效地对相关芯片进行功能测试。

主 题 词：现场可编程门阵列 集成电路测试 测试向量 功能测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.11805/TKYDA2019422

馆 藏 号：203103698...