基于频域法的随机振动载荷下的结构疲劳分析

作     者：马国茂 刘烨磊 MA Guo-mao;LIU Ye-lei

作者机构：中国电子科技集团公司光电研究院天津 

出 版 物：《光电技术应用》 (Electro-Optic Technology Application)

年 卷 期：2021年第36卷第3期

页      码：81-84页

摘      要：针对电子设备的振动疲劳特性,提出了基于频率分析法的随电子荷分析过程。首先对电子设备结构进行频率动态响应特性计算,再结合Steinberg提出的三区间法,建立电子设备的疲劳损伤模型,应用有限元法对电子设备中的易损件进行疲劳寿命仿真分析,计算得到电子设备易损件的累积损伤值。研究结果对电子设备的设计研发具有一定的借鉴和指导意义。

主 题 词：振动疲劳 频率分析法 随电子荷 疲劳寿命 

学科分类：12[管理学] 083002[083002] 1204[管理学-公共管理类] 0830[工学-生物工程类] 120402[120402] 08[工学] 0837[0837] 

馆 藏 号：203103879...