集成电路并行测试适配器设计技术

作     者：侯政嘉 刘炜 石志刚 吉国凡 HOU Zheng-jia;LIU Wei;SHI Zhi-gang;JI Guo-fan

作者机构：北京华大泰思特半导体检测技术有限公司北京100088 

出 版 物：《微处理机》 (Microprocessors)

年 卷 期：2007年第28卷第6期

页      码：13-14页

摘      要：重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。

主 题 词：并行测试适配器 多管芯 PCB板设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-2279.2007.06.005

馆 藏 号：203104014...