二十二碳烯酸 LB 膜热稳定性的研究

作     者：王广民 汪贵华 杨伟毅 

作者机构：南京理工大学电子工程与光电技术学院 

基　　金：国防科技预研行业基金 

出 版 物：《南京理工大学学报》 (Journal of Nanjing University of Science and Technology)

年 卷 期：1997年第21卷第6期

页      码：541-543,564页

摘      要：有机材料ＬＢ膜在热释电成像器件方面应用具有较大的潜力，但稳定性较差是其缺点，该文研究了二十二碳烯酸（２２－ＴＡ）粉末样品及其ＬＢ膜退火前后的Ｘ光电子能谱，研究了其分子结构的热稳定性；采用Ｘ光小角衍射测量了２２－ＴＡＬＢ膜的晶状结构及其常温下随时间的变化，分析了这种热诱导变化的产生原因。所得结果对设计制作性能稳定的热释电有机ＬＢ膜有一定的帮助。

主 题 词：二十二碳烯酸 LB膜 热稳定性 热释电材料 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 

D　O　I：10.14177/j.cnki.32-1397n.1997.06.016

馆 藏 号：203104029...