嵌入式逻辑分析仪在SOPC系统调试中的应用

作     者：阳习书 谢永乐 Yang Xishu;Xie Yongle

作者机构：电子科技大学自动化学院四川成都611731 

出 版 物：《现代科学仪器》 (Modern Scientific Instruments)

年 卷 期：2010年第27卷第5期

页      码：61-63页

摘      要：随着逻辑设计复杂性的不断提高,仅依赖于软件方式的仿真测试了解设计系统的硬件功能已远远不够。本文介绍了可编程逻辑器件开发工具Quartus II中SignalTap II嵌入式逻辑分析仪的特点和使用过程,并给出一个具体的SOPC设计实例,详细介绍使用SignalTap II对Nios系统调试的具体方法和步骤S。ignalTap II在SOPC系统调试中能够捕捉和显示实时信号,方便我们在软件运行过程中跟踪FPGA硬件内部的特性,大大减少了调试、验证过程花费的时间,提高了SOPC设计的灵活性。

主 题 词：SignalTap 硬件调试 FPGA Nios Ⅱ 嵌入式逻辑分析仪 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203104133...