基于改进YOLOv4的电子元器件表面缺陷检测技术研究

作     者：文峰 陈禹铭 WEN Feng;CHEN Yuming

作者机构：沈阳理工大学信息科学与工程学院沈阳110159 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(61672359) 

出 版 物：《沈阳理工大学学报》 (Journal of Shenyang Ligong University)

年 卷 期：2021年第40卷第2期

页      码：1-7,21页

摘      要：采用人工检测工业生产中电子元器件表面缺陷,检测精度和速度都难以满足实际需求。为此提出一种基于改进YOLOv4的电子元器件表面缺陷检测方法,以期为自动化检测提供支撑。通过对网络结构调整,大幅减少网络结构复杂程度;通过设计先验框尺寸优化方法,加快模型训练时的收敛速度;通过设计样本增强方法,对训练数据进行扩充,使网络模型的检测精度有一定提升;在相同实验条件下,使用改进后的YOLOv4模型,在保证精度的前提下可极大缩减计算量,提升网络模型的训练与检测速度。

主 题 词：电子元器件 表面缺陷检测 先验框 网络结构调整 

学科分类：08[工学] 080203[080203] 0802[工学-机械学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-1251.2021.02.001

馆 藏 号：203104163...