DSP随机测试程序自动生成技术

作     者：罗汉青 梁利平 叶甜春 LUO Han-qing;LIANG Li-ping;YE Tian-chun

作者机构：中国科学院微电子研究所北京100029 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2013年第30卷第11期

页      码：154-158,164页

摘      要：提出了一种基于指令集结构,并可与硬件设计和测试环境相契合的自动随机测试生成方法ARTG(automatic random test program generation).它包含用于构造指令的指令树、动态生成策略、分支跳转指令生成算法、流水线冲突预测算法和一套自动结果检查机制.整个测试程序生成过程具有很高的自动化,验证遇到bug时能够减少调试时间迅速找出bug方位.ARTG已应用于自主研发的IME—Diamond数字信号处理器.实验结果表明,该方法产生的测试代码灵活高效,加速了验证过程,并且复杂度低.

主 题 词：功能验证 随机测试生成 指令树 动态策略 结果检查 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2013.11.037

馆 藏 号：203104276...