适用于射频芯片组测试的PXle高速数字激励／响应模块

出 版 物：《今日电子》 (Electronic Products)

年 卷 期：2015年第4期

页      码：68-69页

摘      要：16通道PXIe高速数字激励／响应模块包含参数测量单元（PMU），可以为测试工程师提供快速而灵活的射频：卷片组测试仿真和器件表征功能，帮助他们完成设计验证和生产测试任务。

主 题 词：射频芯片组 测试任务 模块 激励 测量单元 16通道 设计验证 工程师 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203104356...