MCM在标准微带线测量不确定度分析中的应用

作     者：林树坚 段莉莉 Lin Shu-jian;Duan Li-li

作者机构：广东卓识产品质量技术服务有限公司广东广州510507 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2021年第8期

页      码：120-123页

摘      要：该文首先介绍了GUM和MCM的适用范围,指出GUM的局限性和使用中的常见错误。采用MCM对所设计的标准微带传输线的归一化电场强度进行了不确定度分析,详细描述MCM分析步骤,给出最终结果。归一化场强数学期望值为24.45 V/m,扩展不确定度U95=0.28 dB,满足作为近场扫描仪的计量标准器的要求。

主 题 词：测量不确定度 GUM MCM 微带传输线 近场扫描仪 

学科分类：08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 

馆 藏 号：203104814...