辐射强度对中子电离室精度的影响分析

作     者：黄起昌 李丹 谌志强 王松 Huang Qichang;Li Dan;Chen Zhiqiang;Wang Song

作者机构：中国核动力研究设计院核反应堆系统设计技术重点实验室成都610213 

出 版 物：《仪器仪表用户》 (Instrumentation)

年 卷 期：2021年第28卷第9期

页      码：81-85页

摘      要：为探究入射射线强度对堆外核测量系统包含的中子探测器测量精度的影响,通过分析电离室内部电子离子对的漂移、扩散和复合过程,推导出平行板电离室外加高压与饱和电流之间的函数关系,并利用理想的电离室模型量化了随着γ射线强度的上升,中子电离室的测量精度逐渐下降的程度。量化结果表明,随着灵敏体积内电子离子对密度增大,复合与扩散现象对探测器输出电流信号的抑制能力迅速变强,电离室的测量精度线性下降。同时,增大外加高压能有效降低探测精度的下降速度。

主 题 词：电离室 测量精度 电子离子对 

学科分类：08[工学] 082701[082701] 0827[工学-食品科学与工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-1041.2021.09.020

馆 藏 号：203104882...