改进型封装固定点黑体在辐射测温中的应用

作     者：刘裕盛 蔡静 LIU Yu-sheng;CAI Jing

作者机构：中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所北京100095 

基　　金：“十三五”技术基础科研项目(JSJL2015205C001) 

出 版 物：《计量学报》 (Acta Metrologica Sinica)

年 卷 期：2021年第42卷第9期

页      码：1149-1154页

摘      要：为了延长固定点黑体容器使用寿命和简化使用流程,依据热管黑体和传统石墨坩埚黑体的设计使用经验,研制了改进型封装固定点黑体。针对所研制的锡固定点黑体分别用二等标准铂电阻和传递辐射温度计开展复现测试。改进型封装固定点黑体在经历20余次熔凝循环后,没有出现破裂和金属泄露现象。用标准铂电阻复现多次的平均值为231.909℃,扩展不确定度为0.015℃(k=2);而用固定点黑体校准传递辐射温度计的多次平均值为231.85℃,扩展不确定度为0.096℃(k=2)。

主 题 词：计量学 固定点 黑体 辐射测温 

学科分类：08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-1158.2021.09.05

馆 藏 号：203105018...