基于STM32的数字集成电路测试仪的设计

作     者：于宝堃 石晟屹 马望男 李寅博 YU Baokun;SHI Shengyi;MA Wangnan;LI Yinbo

作者机构：天津科技大学电子信息与自动化学院天津300457 

基　　金：天津科技大学大学生实验室创新基金(项目编号:1902A401) 

出 版 物：《实验室科学》 (Laboratory Science)

年 卷 期：2021年第24卷第4期

页      码：71-73,78页

摘      要：设计了一种基于STM32的数字集成电路测试仪,用于检测74LS00、74LS20等实验教学中常用的74系列芯片。系统将功能测试法和参数测试法相结合,以检测被测芯片的逻辑功能和扇出能力。采用STM32F103VET6作为微控制器,通过按键可对其进行操作,构建了引脚配置与选择单元,以满足74系列芯片的引脚需求,利用A/D转换单元来获取输出电流,测试结果在LCD屏中显示。实际测试结果表明:该测试仪操作简单,测试时间短,能准确测量芯片的性能,满足实验教学的需求。

主 题 词：STM32 数字集成电路测试仪 实验教学 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-4305.2021.04.019

馆 藏 号：203105022...