改进的大规模集成电路测试方法

作     者：李春伟 何振中 陈新武 LI Chun-wei;HE Zhen-zhong;CHEN Xin-wu

作者机构：宁夏大学物理电气信息学院宁夏银川750021 华中科技大学多谱信息处理技术国防重点实验室湖北武汉430074 

出 版 物：《信息与电子工程》 (information and electronic engineering)

年 卷 期：2007年第5卷第4期

页      码：308-312页

摘      要：为了提高大规模集成电路可测性设计(Design For Test,DFT)的故障覆盖率,减少测试时间,通过分析自我测试(Self-Testing Using MISR and Parallel SRSG,STUMPS)方法中的测试机制,找出了其测试效果不理想的原因,提出了改进型的大规模集成电路的测试方法,用C语言编写了故障模拟程序,并且在ISCAS’85标准测试电路上进行了验证。

主 题 词：可测性设计 内建自测试 每时钟测试 测试向量压缩 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-2892.2007.04.017

馆 藏 号：203105536...