小通道振荡导致密度锁失效研究

作     者：王升飞 阎昌琪 谷海峰 于沛 WANG Sheng-fei;YAN Chang-qi;GU Hai-feng;YU Pei

作者机构：哈尔滨工程大学核科学与技术学院哈尔滨150001 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50776022) 

出 版 物：《核动力工程》 (Nuclear Power Engineering)

年 卷 期：2010年第31卷第6期

页      码：75-79页

摘      要：对密度锁内小通道振荡现象进行实验研究,发现密度锁失效是由于某一小通道内的分层界面在振荡过程中超出栅格,从而在小通道间形成循环所致。通过理论分析,提出3种解决方法:改变通道管径、减小通道间压差和扰动均匀化,以此为依据设计密度锁结构并进行实验进行验证。结果表明:改变通道管径只有在振荡界面通过管径变化处时才起作用;减小通道间压差的方法则需增加密度锁长度;扰动均匀化是最佳方法,可有效地减弱振荡幅度。

主 题 词：密度锁 振荡 失效 结构 

学科分类：08[工学] 082701[082701] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

馆 藏 号：203105670...