基于太赫兹技术的锂电池电极涂层质量检测

作     者：曹佳炜 袁英豪 CAO Jiawei;YUAN Yinghao

作者机构：上海理工大学光电信息与计算机工程学院上海200093 

出 版 物：《光学仪器》 (Optical Instruments)

年 卷 期：2021年第43卷第5期

页      码：1-6页

摘      要：为了对锂电池的电极涂覆层材料厚度以及均匀性进行无损检测,弥补传统检测方式辐射性强、对检测人员伤害大以及太赫兹远场成像分辨率低的缺点,设计研制了一套测量探头能够灵活移动的太赫兹近场光谱检测系统。采用太赫兹微米探针和利用近场技术对涂覆层进行探测,实现了微米级检测。检测结果表明,本系统能够发现传统β射线和X射线等检测手段无法识别到的厚度不均匀缺陷,可为锂电池电极涂覆层的质量检测提供一种高分辨率的、快速的太赫兹无损安全检测手段。

主 题 词：电极涂覆层 微米探针 近场 无损检测 

学科分类：07[理学] 070302[070302] 0703[理学-化学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-5630.2021.05.001

馆 藏 号：203105845...