看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >电子式单相电能表计量芯片性能分析 收藏
电子式单相电能表计量芯片性能分析

电子式单相电能表计量芯片性能分析

作     者:宗建华 高津茹 杨湘江 郜波 

作者机构:中国电力科学研究院电测量研究所北京100085 

出 版 物:《电测与仪表》 (Electrical Measurement & Instrumentation)

年 卷 期:2002年第39卷第8期

页      码:14-16,35页

摘      要:对5种电子式单相电能表进行了模拟实际应用工况的特殊测试,这些电能表采用的计量芯片各不相同。测试结果表明:电能表计量性能的差异与计量芯片关系密切;该类电能表存在原理性的缺陷;计量芯片如果设计不合理,丢失的电量不容忽视。测试结果还验证了电子式单相电能表在使用中暴露的问题。

主 题 词:性能分析 电子式单相电能表 计量芯片 

学科分类:080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1001-1390.2002.08.004

馆 藏 号:203106315...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分