“高精度A/D+DSP+MCU”的双处理器方案在变压器参数测试仪中的应用

作     者：刘丽萍 蔺金元 

作者机构：宁夏大学物理电气信息学院宁夏银川750021 

出 版 物：《宁夏工程技术》 (Ningxia Engineering Technology)

年 卷 期：2002年第1卷第2期

页      码：193-195页

摘      要：针对电力系统中广大变压器用户的需求,将“高精度A/D+DSP+MCU”的双处理器方案应用于变压器参数测试仪中,提高了仪器数据处理的速度,从而保证了仪器对便携式、智能化和高精度的要求;并对类似结构的仪器设计提供了一种有效的可借鉴的方案.

主 题 词：A/D DSP MCU 双处理器方案 变压器 参数测试仪 数据处理 电力系统 仪器设计 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-7244.2002.02.016

馆 藏 号：203106446...