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基于正交试验的液晶屏老化炉优化设计

基于正交试验的液晶屏老化炉优化设计

作     者:孙家圆 倪俊芳 杨波 SUN Jiayuan;NI Junfang;YANG Bo

作者机构:苏州大学机电工程学院江苏苏州215021 苏州优备精密智能装备股份有限公司江苏苏州215021 

出 版 物:《机械工程师》 (Mechanical Engineer)

年 卷 期:2021年第12期

页      码:51-53页

摘      要:基于对流传热理论,使用Flotherm建立老化炉热流场模型;选择合理的因素水平,通过正交试验,进行数值仿真及极差分析,获得较优水平组合;通过实测温度与优化前的温度进行比较分析。结果表明:温度场分布均匀度比原来提高56.1%,验证了数值模拟的可行性和优化方案的有效性。

主 题 词:老化测试 液晶屏 正交试验 数值模拟 热流耦合 

学科分类:08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

馆 藏 号:203106576...

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