一个贝叶斯离散可靠性增长模型(英)

作     者：林达明 

作者机构：汕头大学数学系汕头515063 

出 版 物：《应用数学》 (Mathematica Applicata)

年 卷 期：1997年第10卷第3期

页      码：110-115页

摘      要：本文提出了一个贝叶斯离散可靠性增长模型．假设一个产品的开发过程由m个阶段组成．在每一个阶段中，都进行一个成败型寿命试验．在试验结束后，再分析其结果，然后对产品进行修改或重新设计，以期提高产品的可靠性．如果产品的失效可分为不可修复的以及可修复的两种．假定产品的不可修复失效概率在各个阶段中保持相同，而可修复失效概率随着试验阶段的增加而减少．

主 题 词：可靠性增长模型 寿命试验 贝叶斯 成败型 

学科分类：02[经济学] 0202[经济学-财政学类] 020208[020208] 07[理学] 0714[0714] 070103[070103] 0701[理学-数学类] 

核心收录：

馆 藏 号：203107079...