单片机控制的常用IC芯片故障测试仪

作     者：宋跃 

作者机构：湖南邵阳师专物理系422000 

出 版 物：《测控技术》 (Measurement & Control Technology)

年 卷 期：1998年第17卷第5期

页      码：51-52,55页

摘      要：介绍8031控制的常用IC测试原理和硬软件设计，本系统能完成对TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列的数字集成电路、部分ADC器件、部分DAC器件、部分运算放大器等器件的测试。

主 题 词：单片机 测试原理 引脚选择控制 IC芯片 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19708/j.ckjs.1998.05.022

馆 藏 号：203107169...