确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则

作     者：刘攀 缪淮扣 曾红卫 梅佳 LIU Pan;MIAO Huai-Kou;ZENG Hong-Wei;MEI Jia

作者机构：上海大学计算机工程与科学学院上海200072 上海市计算机软件评测重点实验室上海201112 

基　　金：国家自然科学基金(60970007 61073050) 国家重点基础研究发展计划(973)(2007CB310800) 上海市自然科学基金(09ZR1412100) 上海市科学技术委员会资助项目(10510704900) 上海市重点学科建设项目(J50103) 

出 版 物：《软件学报》 (Journal of Software)

年 卷 期：2011年第22卷第7期

页      码：1457-1474页

摘      要：软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测试分为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补充设计测试用例,探测软件中潜在的错误.重点是第1阶段的实现.依据确定性有限状态机和集合划分的理论,提出了确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则,给出了最小测试成本迁移覆盖存在的充分和必要条件,设计了优化迁移覆盖和最小测试成本迁移覆盖的实现算法,并讨论了测试序列集合的有效性问题.在实验中,依据该方法不仅能够获得最小测试成本的测试用例集合,而且同样能够探测出确定性有限状态机中迁移上的错误.

主 题 词：最小测试成本迁移覆盖准则 成本/效率的平衡 确定性有限状态机 迁移覆盖 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 0811[工学-水利类] 0812[工学-测绘类] 081202[081202] 

核心收录：

D　O　I：10.3724/SP.J.1001.2011.03872

馆 藏 号：203107225...