基于边界扫描的SRAM测试技术的研究与实现

作     者：陈寿宏 颜学龙 黄新 Chen Shouhong;Yan Xuelong;Huang Xin

作者机构：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院广西桂林541004 

基　　金：国家自然科学基金项目(61102012) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2013年第21卷第2期

页      码：324-326页

摘      要：静态随机存储器(SRAM)应用广泛,必须充分测试以保证其高可靠性;应用边界扫描的虚拟探针技术实现SRAM测试,分析SRAM功能结构并建立测试模型;以HY6264SRAM存储器为被测对象进行DEMO板可测性设计,应用TCL语言描述其测试信息;实验证明,该方法可完成对SRAM外围线(包括控制线、数据线和地址线)和存储单元的测试与故障诊断,结果正确且诊断定位具体,具有较好的应用前景。

主 题 词：SRAM测试 边界扫描测试 故障诊断 TCL语言 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-4598.2013.02.012

馆 藏 号：203107311...