电压反馈型运放电参数可靠性测试方法

作     者：李明煜 吕乐 LI Mingyu;LYU Yue

作者机构：中国航天科工防御技术研究试验中心北京100854 

出 版 物：《舰船电子工程》 (Ship Electronic Engineering)

年 卷 期：2022年第42卷第2期

页      码：147-151,194页

摘      要：芯片生产时由于工艺、设备客观存在的参数波动性造成成品中会存在有缺陷的芯片。装机时使用有缺陷的芯片严重时会损坏整机系统。电参数可靠性试验即为剔除芯片典型电参数超差而进行的筛选试验。针对这部分内容测试目前总结综述类文章较少且不全面的问题,文章总结电压反馈型运放环设计方法及运放的测试方法,对电压反馈型运算放大器电参数测试方法分析,结合模拟电路分析方法给出电压型反馈运放参数计算公式和测试原理,最后设计运放环对比某型号ATE配套运放环对AD公司高速运放AD8066ARZ进行典型电参数测试验证其正确性。

主 题 词：运算放大器 可靠性 电参数 电压反馈型 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-9730.2022.02.032

馆 藏 号：203108257...